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Somit stehen Ihnen im akkreditierten Bereich Prüfverfahren aus den Gebieten der Elektronenmikroskopie, Oberflächenanalytik (XPS) und der chemischen Analytik zur Verfügung. Die Akkreditierung gilt für die in der Urkunde aufgeführten Prüfverfahren.
Im seit mehr als zehn Jahren akkreditierten Bereich der chemischen Analytik bietet das Fraunhofer ISC präzise Analysen und Prüfungen von anorganischen Materialien und Werkstoffen an.
Eine langjährige Erfahrung bei nasschemischen Aufschlüssen rundet das Angebot ab.
Die Oberflächen von Materialien sind bei vielen Anwendungen von besonderer Bedeutung. Haptik, Optik, Korrosionsverhalten, elektrische Leitfähigkeit, Benetzungsverhalten, Haftung und viele andere Eigenschaften werden dabei maßgeblich von der Chemie an der Oberfläche bestimmt. Diese können wir mit Hilfe moderner Verfahren wie XPS oder REM untersuchen.
Ein weiterer wichtiger Aspekt ist die Beurteilung der Sauberkeit. Sie ist z. B. für optische Bauteile oder für die Verpackung von medizinischen und pharmazeutischen Produkten entscheidend. Hier spielt die Analyse von Kontaminationen und ihre Herkunft eine wichtige Rolle.
Grundlage der Analyse des Materialaufbaus ist die Untersuchung mittels elektronenmikroskopischer Verfahren. Die Abbildung der Topographie und der Materialzusammensetzung von der Millimeter- bis hinab auf die Nanometerskala führt zu einem umfassenden Verständnis des Materialaufbaus.
Am Fraunhofer ISC stehen verschiedene Elektronenmikroskope mit vielfältigen Analysemöglichkeiten zur Verfügung. Die Bedienung erfolgt durch wissenschaftlich ausgebildetes Personal. Besondere Schwerpunkte liegen auf der möglichst artefaktfreien Materialpräparation als Schlüsseltechnologie zur aussagekräftigen Analytik sowie auf dem Mikrolabor im REM, in dem Materialeigenschaften in situ auf der Mikrometerskala gemessen werden können.
Zentrum für Angewandte Analytik ZAA
